ZESTRON Academy
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Ausfallursachen- und Schadensanalytik an elektronischen Baugruppen

Bei kürzer werdenden Entwicklungszeiten müssen Umweltsimulations-Testergebnisse schnell und zuverlässig in Produktoptimierungen umgesetzt werden. Hierbei helfen ein routinierter Umgang mit den zur Verfügung stehenden Systematiken sowie eine gute Vernetzung mit Experten. 

Das lernen Sie

  • Typische Schadensbilder bei Testausfällen: Entstehung und Identifikation
  • Ausfallmechanismen an elektronischen Baugruppen
  • Einführung in die Methodik der Schadensanalyse
  • Analytisches Handwerkszeug zur Ausfallanalyse
  • Korrision von Flachbaugruppen infolge von Schadgaseinfluss  
  • Typische Ursachen von Feldausfällen bei elektronischen Baugruppen

Ihr Nutzen

  • Praxisteil: Bearbeitung eines Schadensfalles in Gruppen
  • Fehlerbilder: Lücken in der Qualitätsplanung erkennen
  • Optimierung Ihrer Produkte durch systematische Testauswertung und Testdesigns
  • Möglichkeit zum Austausch mit den Teilnehmern und Referenten bei einem gemeinsamen Abendessen

Programm

Das Tagesprogramm 2017 können Sie hier ansehen.

Referenten

Stefan Strixner
Principal Engineer
ZESTRON Europe

Dr. Gert Vogel
Failure Analysis Electronics
Siemens AG

Dipl.-Ing. Dominik Holzinger
Schadensanalytiker
ACL GmbH – Analytisch Chemisches Labor

Auf einen Blick

Termin30. - 31.01.2018
DauerTag 1: 09.00-16.30
Tag 2: 09.00-16.00
OrtIngolstadt
Gebühr€1.250,--

Eine Kooperation mit dem Haus der Technik e.V

Teilnahmegebühr

€1.250,--(zzgl. MwSt.)

Darin enthalten: Pausengetränke, Mittagessen, eine Stadtführung, ein Abendessen, ein Teilnahmezertifikat, sowie ausführliche Tagungsunterlagen.

Planen Sie Ihren Trainingsbesuch

Hier finden Sie alle nötigen Informationen zur Anfahrt, Übernachtung, Ingolstadt und zu unseren Räumlichkeiten.

Alles was Sie sonst noch wissen möchten!