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イオンクロマトグラフィー

高解像度分析方法では、IPC-TM-650に従いアセンブリ基板上のイオン残渣(アニオン、カチオン、および弱有機酸)を細部にわたり測定します。また、モジュール上の臭化物または塩化物などの懸念物質を正確に測定することができます。コンタミノメーターやオメガメーターなどの簡易測定方法と比較した場合、イオノクロマトグラフィーは単一イオン分解能の定量または定性分析が可能です。

適用範囲 

  • リーク電流やエレクトロケミカルマイグレーションまたは銅接点の腐食など、潜在的リスクの予測評価
  • ガイドラインに従ったはんだ付け後の清浄性評価
  • 洗浄後または次工程となるコーティングやボンディング前の表面定性分析
  • 定期サンプル調査による継続的な品質管理

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電話: 0463-79-6756