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Kontakt

Oberflächenreinheit Zestron Eifert | © @The Sour Cherry Fotografie - Michaela Curtis
Christina Eifert

Technology Analyst

Telefon

+49 (0) 8453/41995310

Christina Eifert ist Diplom-Ingenieurin der Technischen Chemie und arbeitet seit einigen Jahren bei ZESTRON Europe. Seit 2020 ist sie als Technology Analyst Teil des Academy und Reliability & Surfaces Teams. In den Bereichen Risikobewertung sowie Oberflächen- und Schadensanalyse führt sie Technologie-Coachings durch.

Ausfallursachen- und Schadensanalytik an elektronischen Baugruppen

Im Training lernen Sie nicht nur das systematische Arbeiten, sondern auch Fehlerbilder an verschiedenen Komponenten kennen.

Bild eines Schadens durch Spannungsdurchschlag auf einer elektronischen Baugruppe, verursacht durch Poren im Lötstopplack. | © Zestron

Details

Auf einen Blick


Termine

Di., 18.02.2025 , 09:00-16:15 Uhr

Mi., 19.02.2025 , 09:00-16:15 Uhr


Ort

Hybrid


Gebühr

1.580 €

Preisangabe zzgl. ges. MwSt.

Darin enthalten: Pausengetränke, Mittagessen, ausführliche Schulungsunterlagen, Teilnahmezertifikat


Downloads
Tagesprogamm

Beschreibung

Was Sie erwartet

Bei der Entwicklung robuster elektronischer Baugruppen hilft Ihnen als Qualitätsverantwortlicher oder bei der Arbeit im Umweltstresstestlabor neben der systematischen Herangehensweise auch eine umfassende Kenntnis von Fehlerbildern.

 

Teilnahmegebühren:

Vor Ort: 1.580 €

(inkl. Getränke, Mittagessen, Unterlagen, Teilnahmezertifikat)

 

online: 990 € 

(inkl. Unterlagen, Teilnahmezertifikat)

 

Das sagen unsere Teilnehmer


   Meiner Erwartung bezüglich "Blick über den Tellerrand" wurde voll und ganz erfüllt, sowohl für mich persönlich als auch für die zukünftige Zusammenarbeit mit z.B. der QS.

 


   Sehr Informativ und viele Informationen von Spezialisten aus der Praxis mit Beispielen. Dies ermöglicht auch eine Umsetzung der Informationen in den eigenen Arbeitsbereich

  • Typische Schadensbilder: Entstehung und Identifikation
  • Ausfallmechanismen
  • Einführung in die Methodik der Schadensanalyse
  • Analytisches Handwerkszeug zur Ausfallanalyse
  • Schwachstellen von Schaltungen
  • SMD LEDs: Elektrostatische Entladung und elektrische Überlastung
  • Korrosion von Elektronik infolge von Schadgaseinfluss 
  • Typische Ursachen von Feldausfällen bei elektronischen Baugruppen

 

 

  • Praxisteil: Bearbeitung eines Schadensfalles
  • Fehlerbilder erkennen und vermeiden
  • Möglichkeit zum Austausch mit erfahrenen Referenten
Hybrid (Online & Baar-Ebenhausen)

 

Wählen Sie zwischen einer Teilnahme vor Ort in Baar-Ebenhausen oder online im Livestream. Bei beiden Varianten haben Sie ausreichend Gelegenheit Fragen zu stellen.

Ihre Vorteile bei einer Teilnahme in Baar-Ebenhausen:

  • Reinigungsanlagen live erleben

  • Noch mehr Zeit für Fragen während der Pausen


Ihre Vorteile bei einer Teilnahme im Live-Stream:

  • Zeit- und Kostenersparnis durch wegfallende An- und Abreise

  • Teilnahme auch im Home-Office möglich

Teilnahme im Live-Stream:  Der Workshop wird über den Dienst Webex Meetings abgehalten. Spätestens zwei Tage vor dem Workshop erhalten Sie eine Termineinladung zum Webex Meeting inklusive Uhrzeit und Zugang. Es ist kein Download des Programms erforderlich.

Expertise

Unsere Referenten

Oberflächenreinheit Zestron Meier | © @The Sour Cherry Fotografie - Michaela Curtis
Dr. Markus Meier

Gruppenleiter Reliability & Surfaces

ZESTRON Europe

Stefan Schoemaker

Key Expert Reliability & Standards ams OSRAM Group

ams-OSRAM International GmbH

Ove Hach

Director of Regional Marketing

VISHAY BCcomponents BEYSCHLAG GmbH

Dominik Holzinger

Schadensanalytiker

ACL Analytisch Chemisches Labor GmbH

Lutz Bruderreck

Manager, Failure Analysis

TechnoLab GmbH

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FAQ