Analytik Services
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Reinheitsanalyse

Wir analysieren auf den µm genau für Sie!

Die Funktionssicherheit elektronischer Baugruppen kann wesentlich durch Verunreinigungen aus dem Produktionsprozess, z. B. durch Flussmittel oder Partikel, beeinträchtigt werden. ZESTRON hat dafür Analysemethoden entwickelt, die Ihnen helfen, die erforderlichen Nachweise über die Oberflächenreinheit, und damit über die Beschicht- bzw. Bondbarkeit Ihrer Baugruppen zu erbringen. Auch im Schadensfall können wir eine Fehleranalyse für Sie durchführen.

Wir bieten Ihnen:

  • Analyseverfahren nach J-STD 001F zur Qualifizierung der Oberflächenreinheit
  • Technische Berichte mit umfangreicher Dokumentation und Bildnachweis
  • Abschätzung der möglichen Folgen von Restverunreinigungen
  • Empfehlung von Abhilfe- bzw. Optimierungsmaßnahmen 

Hierfür stehen folgende Geräte und Verfahren zur Verfügung:

Kontakt

Tel: +49 (841) 635-26

Ihr Nutzen:

  • Nachweis der Oberflächenreinheit/-qualität für interne und externe ISO Audits
  • Sicherheit bei Gewährleistungsansprüchen von Kunden und Lieferanten
  • Nachweisbare Reinheit für die statistische Prozesskontrolle
  • Sicherstellung der Beschicht- und Bondbarkeit Ihrer Baugruppen