ZESTRON Academy
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La chromatographie ionique comme outil d’interprétation pour le test SIR - Webinaire

La robustesse climatique des cartes électroniques est souvent évaluée au moyen du test SIR (Surface Insulation Resistance). Bien que ce test permette de tirer une conclusion quant à la robustesse climatique du circuit, il n’est souvent pas possible de déterminer la cause d’une chute de la résistance au-delà de la valeur limite définie pour le test SIR. L’analyse de la contamination ionique peut alors apporter quelques réponses. La résistance de surface est en effet fortement influencée par la présence d’éléments hygroscopiques (ions, acides organiques faibles) à la surface même du circuit. Une analyse détaillée de la contamination ionique permet souvent de comprendre les résultats du test SIR, mais plus encore d’identifier l’origine de ces ions.

Les points suivants seront abordés lors du webinaire:

  • Le test SIR
  • Les méthodes d’analyse de la contamination ionique: Test ROSE, chromatographie ionique
  • L’interprétation des résultats du test SIR à l’aide la chromatographie ionique

Vos avantages:

  • Profitez de l’expérience de ZESTRON dans le domaine de la fiabilité des cartes électroniques et de la propreté ionique
  • Échange direct avec notre expert
  • Gratuit
  • Envoi du support de présentation après le webinaire

Intervenant

Freddy Gilbert
Technology Analyst
ZESTRON Europe

Enregistrement et exigences techniques

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D'un coup d'œil

date:10 juin 2020
heure:14h30 - 15h15
tarif:gratuit

Lina Bach
Tel.: +49 (0)841 635-24
E-Mail