Méthode d‘estimation de la durée de vie d‘une carte électronique soumise aux contraintes d’un climat humide

Production de Cartes Electroniques / Analyses

Méthode d‘estimation de la durée de vie d‘une carte électronique soumise aux contraintes d’un climat humide

Les tests de sécurité climatique des modules électroniques se composent actuellement de plusieurs tests séquentiels d’aptitude à l’emploi, tels que les tests de changement de température, de brouillard salin, de condensation, de gaz nocifs, d’extraction de scotch et de simulation de fonctionnement. La majorité de ces procédures impliquent un équipement coûteux. La durée totale des essais est souvent de quatre à six mois. Cette longue durée d’essai entre notamment en concurrence avec les temps de développement courts souhaités ou souvent imposés pour les systèmes à commande électronique. C’est pourquoi les méthodes de calcul de la fiabilité climatique des sous-ensembles pourraient à l’avenir prendre une importance similaire à celle des méthodes de calcul de la fiabilité thermique ou mécanique pour la réduction du temps de test et la pré-optimisation.

Cet article présente les possibilités numériques et expérimentales actuelles pour planifier et tester la fiabilité climatique des assemblages électroniques.