Test de qualité de l’effet de protection des masses d‘enrobage contre les gaz nocifs et l’humidité
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[Dr. Helmut Schweigart; Dr. Markus Meier]
Les fissures et les points faibles dans les enrobages électroniques exposent les composants à l'humidité et aux gaz nocifs, réduisant ainsi leur durabilité. Des tests d'exposition aux gaz corrosifs tels que le dioxyde de soufre et le sulfure d'hydrogène sont couramment utilisés pour évaluer la fiabilité des enrobages. Nous proposons un test rapide et efficace utilisant la vapeur d'iode, qui peut détecter des défauts microscopiques en seulement trois heures à 60°C. Cette méthode garantit une manipulation simple et sûre, augmentant l'efficacité des tests de durabilité des composants électroniques.
Forme de livraison : PDF
Réf. de l'art. : FR-2212-06
Production de Cartes Electroniques / Analyses / Revêtement
Test de qualité de l’effet de protection des masses d‘enrobage contre les gaz nocifs et l’humidité
Les fissures et les points faibles dans les masses d‘enrobage favorisent la pénétration de l‘humidité ou de substances nocives susceptibles de causer une panne générale du circuit électronique, ou encore de réduire la durée de vie du produit. Les zones défectueuses des enrobages doivent être considérées comme très critiques, en particulier si l’air ambiant est humide ou à teneur élevée en gaz nocifs, car elles permettent un accès direct des gaz corrosifs et de l’humidité aux composants métalliques et aux circuits sujets à la corrosion. Pour tester l’étanchéité du système de protection par rapport aux gaz corrosifs et à l’humidité, des tests sont actuellement effectués avec plusieurs gaz nocifs ou mélanges gazeux comme le dioxyde de soufre, le sulfure d’hydrogène, l’oxyde d’azote et le dichlore. Ces tests sont utilisés pour vérifier que les masses d‘enrobage garantissent un fonctionnement fiable des cartes électroniques et des composants dans un environnement corrosif. Pour, d’une part, réduire considérablement la durée des tests et, d’autre part, obtenir un diagnostic rapide sur le nombre et l’emplacement des points faibles potentiels, nous proposons dans le cadre de cette contribution un test de qualité basé sur la vapeur d’iode.
Le caractère hautement réactif de la vapeur d‘iode est ici avantageux. Une durée d‘exposition de 3 heures à 60°C dans une chambre saturée en vapeur d‘iode peut suffire à détecter les fissures microscopiques, les points faibles exposés à la pénétration ainsi que les défauts d‘adhérence des enrobages au niveau des métallisations critiques des composants et du circuit. Dans ces conditions, la vapeur d’iode peut être générée à partir d‘une phase aqueuse, ce qui garantit en outre la simplicité et la sécurité de manipulation lors du test.
Dr. Helmut Schweigart
Responsable du service Reliability & Surfaces, ZESTRON Europe
Dr. Helmut Schweigart a obtenu son doctorat dans le domaine de la fiabilité des modules électroniques et travaille chez ZESTRON Europe depuis les débuts de l'entreprise. Actuellement, il est à la tête de l'équipe Reliability & Surfaces. Il est également membre du conseil d'administration de la GfKORR (« Gesellschaft für Korrosionsschutz », société pour la protection contre la corrosion) et actif au sein des associations professionnelles GUS, ECPE, ZVEI, JEP et IPC.
Dr. Markus Meier
Chef de groupe Reliability & Surfaces, ZESTRON Europe
Dr. Markus Meier a étudié et obtenu son doctorat en chimie à l'Université Technique de Munich. Il est expert dans les domaines de la chimie interfaciale et de l'analyse de surface. Il travaille chez ZESTRON Europe en tant que chef de groupe, où il est responsable de la coordination de projets de recherche ainsi que de l'organisation et de la réalisation de coachings technologiques sur les thèmes de l'analyse des dommages et de l'évaluation des risques. Il est également actif au sein des associations professionnelles GUS, ECPE et IEC.