Análisis REM/EDX

Servicios analíticosAnálisis SEM/EDX

El método SEM/EDX, que consiste en la microscopía electrónica de barrido (SEM) y la espectroscopia de dispersión de energía de rayos X (EDX), es una técnica potente para analizar las propiedades superficiales y la composición química de diversos materiales. Especialmente en el sector de la electrónica, los análisis SEM/EDX pueden detectar defectos superficiales y contaminación en sus ensamblajes e identificar y analizar fallos a nivel microscópico.

¿Cuándo y dónde es útil un análisis SEM/EDX?

• Análisis de limpieza antes y después de la limpieza

• Análisis de partículas para la limpieza técnica VDA 19 / ISO 16232

• Medición del espesor del revestimiento de acabados metálicos

• Identificación de compuestos orgánicos e inorgánicos

• Análisis de rugosidad de superficies

• Análisis de fallos y defectos, por ejemplo, corrosión, problemas de adherencia, problemas de unión, metalización, análisis de superficies, así como composición y distribución de residuos y partículas

¿Qué ofrece un análisis SEM / EDX?

• La tecnología de emisión de campo permite obtener imágenes cercanas a la superficie con tensiones de aceleración bajas

• Visualización de alta resolución de la topografía de sus muestras

• Análisis preciso de los elementos químicos de materiales y componentes

• Visualización del contraste y la densidad del material en la superficie

• Se utilizan diferentes detectores en función de la tarea y la evaluación de nuestros analistas

• El cosido puede realizarse a su discreción

• Proporcionamos análisis completos en una presentación de PowerPoint o en un informe técnico que incluye la interpretación, según sea necesario