Détection de la contamination ionique sur des composants à faibles standoff – Partie II
» gratuitement «
[Dr. Helmut Schweigart; Freddy Gilbert]
Découvrez la deuxième partie de l'étude sur l'extraction de la contamination ionique des circuits imprimés et des cartes électroniques avec composants à faible standoff. Évaluation de la propreté ionique et comparaison des résultats de chromatographie ionique.
Forme de livraison : PDF
Réf. de l'art. : FR-2307-02
Détection de la contamination ionique sur des composants à faibles standoff
Cet article résume la deuxième partie d‘une étude qui s’intéresse à l’extraction de la contamination ionique de la surface de circuits imprimés et de cartes électroniques équipées avec des composants à faible standoff. Tandis que la première partie de cette étude s’intéressait à l’influence du temps, de la température et du mélange alcool isopropylique-eau déionisée sur l’extraction des ions en chromatographie ionique, cette deuxième partie se concentre sur l’évaluation de la propreté ionique des circuits imprimés et sur la comparaison des résultats de chromatographie ionique pour des cartes électroniques intactes et des cartes électroniques dont les composants à faible standoff ont été retirés.
Dr. Helmut Schweigart
Responsable du service Reliability & Surfaces, ZESTRON Europe
Dr. Helmut Schweigart a obtenu son doctorat dans le domaine de la fiabilité des modules électroniques et travaille chez ZESTRON Europe depuis les débuts de l'entreprise. Actuellement, il est à la tête de l'équipe Reliability & Surfaces. Il est également membre du conseil d'administration de la GfKORR (« Gesellschaft für Korrosionsschutz », société pour la protection contre la corrosion) et actif au sein des associations professionnelles GUS, ECPE, ZVEI, JEP et IPC.
Freddy Gilbert
Analyste technologique, ZESTRON Europe
Freddy Gilbert a étudié les sciences des matériaux à l'École polytechnique de l'Université de Montpellier et à l'Université Technique de Berlin pour obtenir un Master of Engineering. Dans son poste d'analyste technologique au sein de l'équipe Reliability & Surfaces de ZESTRON, il organise et réalise des coachings technologiques sur les thèmes suivants : analyse de défaillances, analyse de surfaces, évaluation des risques.
