Assemblages électroniques : la migration électrochimique comme facteur de risque

Un aperçu des principes et des mécanismes de la migration électrochimique

cause de défaillanceMigration électrochimique

La migration électrochimique (ECM) dans l'électronique compromet la fiabilité des assemblages, souvent par des pannes liées aux conditions climatiques. Elle résulte du déplacement d’ions métalliques sous l'effet de champs électriques et de l'humidité. Cette migration peut provoquer des dysfonctionnements temporaires ou des courts-circuits permanents, pouvant même, dans les cas extrêmes, entraîner une surchauffe et des incendies. Comprendre les conditions de formation et le mécanisme est essentiel pour prendre des mesures préventives.

comprendre la migration électrochimiqueLes conditions de sa formation

La migration électrochimique est favorisée par l'humidité qui permet la corrosion. Elle se développe à partir de films d'humidité présents sur les surfaces ou par condensation, phénomène dans lequel les matériaux utilisés et les impuretés éventuelles jouent un rôle crucial.

L'hygrométrie critique pour les films d'humidité dépend de l'énergie et de la polarité de surface, c'est-à-dire du matériau, notamment du vernis épargne. Ce seuil critique peut être atteint même avec une hygrométrie inférieure au point de rosée, car des films minces suffisent à causer la corrosion.

La condensation est induite par les variations de température et se concentre sur les points les plus inertes à la chaleur, tels que les métallisations ou les impuretés. Les résidus de brasage, comme les acides organiques ou les sels halogénés, abaissent localement le point de rosée jusqu'à 60% d'humidité relative.

Le matériau utilisé est un facteur important. D'une part, des films d'humidité se forment sur les surfaces métalliques ou d'oxydes métalliques dès une humidité critique de 60% à 70% HR, tandis que sur des céramiques à base d'alumine, ils ne se forment qu'au-delà de 90% HR. D'autre part, le matériau de métallisation ou de brasage doit présenter une zone active dans des électrolytes alcalins pour que la migration se produise. Certains métaux sont enclins à migrer, tandis que d'autres restent inchangés dans des conditions similaires. La susceptibilité de chaque élément doit être évaluée.

Les impuretés sur les assemblages, comme les résidus de flux ou les poussières, agissent comme des noyaux de condensation et favorisent le phénomène. Elles peuvent stocker l'humidité sur les surfaces et, par exemple, entraver le séchage des polymères.

mécanisme de migration électrochimiqueLe processus d'ECM se déroule en trois étapes clés :

L'illustration montre les effets de la migration électrochimique sur la surface d'un assemblage où se produit la dissolution du métal.  | © ZESTRON

01 | Dissolution anodique des métaux

Les films d'humidité sur les surfaces des assemblages réduisent la résistance de surface et donc la capacité d'isolation. Dès qu'une épaisseur de film critique est atteinte, une électrolyse se produit, ce qui entraîne une alcalinisation locale à l'anode, activant électrochimiquement des ions métalliques tels que l'argent, le cuivre, l'étain et le plomb. La dissolution de la surface anodique génère des concentrations de complexes métalliques qui se diffusent le long d'un gradient de concentration.

L'illustration montre la croissance de dentrides sur la surface d'un assemblage causée par la migration électrochimique.  | © ZESTRON

02 | Migration des ions métalliques

Le mouvement des ions est contrôlé par le champ électrique ou le gradient de potentiel ainsi que par le gradient de concentration. Le gradient de potentiel dépend de la tension de service et de la distance entre les conducteurs, tandis que le gradient de concentration est influencé par la vitesse de dissolution et de diffusion des ions métalliques solvatés. Le rapport de ces deux gradients détermine si les ions diffusent le long du gradient de concentration, voire migrent contre le champ électrique, de la masse vers le contact.

L'illustration montre la croissance de dentrides sur la surface d'un assemblage causée par la migration électrochimique.

03 | Dépôt des ions métalliques

La formation de ponts se produit soit par dépôt galvanique à la cathode, soit par précipitation d'hydroxydes, d'oxy-hydroxydes ou de complexes sous forme de sels à l'anode. La structure des ponts varie en fonction de la concentration en ions et de l'intensité du champ, et peut adopter des structures dendritiques ou des formes de croissance plus lisses.


migration électrochimiqueDistinction du claquage sous tension analyse des effets

Différenciation de l'ECM par rapport à d'autres modes de défaillance

Pour pouvoir remédier spécifiquement aux pannes, il est important de différencier la migration électrochimique d'autres types de défaillances, comme les claquages sous tension ou la graphitisation sur les composants. Les claquages sous tension sont principalement causés par des pores dans le vernis de protection, qui réduisent la capacité d'isolation. La graphitisation des composants survient lorsque l'effet isolant des revêtements organiques est insuffisant. La cause réside également dans la porosité, qui doit être corrigée par l'optimisation du vernissage.

Image d'un dommage par claquage sous tension sur un module électronique, causé par des pores dans le vernis épargne. | © Zestron
Dommages causés par une décharge électrique

Conséquences de la migration électrochimique

Lors de défaillances ou de dysfonctionnements, la migration électrochimique est souvent difficile, voire coûteuse à détecter.

Si le de temps de condensation est court, de petites dendrites se forment, qui ne sont pas capables de conduire le courant et brûlent immédiatement. Cela entraîne le mécontentement des utilisateurs et des coûts induits potentiellement élevés. En effet, la détection nécessite souvent des investigations poussées qui sont logistiquement complexes. Ainsi, les défaillances dues à l'ECM sur le terrain restent souvent non identifiées et sont confondues avec d'autres problèmes tels que des erreurs logicielles ou des courants de fuite.

Cependant, lorsque des dendrites permanentes se forment, des températures de plusieurs centaines de degrés Celsius peuvent rapidement être atteintes. Sans protection adéquate, cela peut entraîner des incendies et détruire le circuit. Par la suite, il reste souvent spéculatif de savoir si la cause était une migration électrochimique ou un claquage sous tension.

Représentation des effets de la migration électrochimique sur un assemblage électronique. | © ZESTRON
Dommages causés par la migration électrochimique

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