Détection de la contamination ionique sous des composants à faible standoff
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[Dr. Helmut Schweigart; Freddy Gilbert]
Découvrez comment la chromatographie ionique et le test ROSE évaluent la propreté ionique des cartes électroniques avec composants à faible standoff. Influence des paramètres d'extraction.
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Réf. de l'art. : FR-2105-02
Contamination Ionique / Production de Carte Electroniques / Analyses
Détection de la contamination ionique sous des composants à faible standoff
Si la réduction de la taille des composants a permis d’accroître la fonctionnalité des cartes électroniques, elle a également conduit à une réduction du standoff. Par conséquent, un contrôle optique de la propreté sous ces composants devient difficile, voire impossible. La chromatographie ionique et la mesure de l’équivalent ionique (test ROSE) sont des méthodes d’extraction utiles pour l’évaluation de la propreté ionique des cartes électroniques. Cet article s’intéresse à l’influence des paramètres d’extraction en chromatographie ionique (température, durée d’extraction et choix du mélange d’extraction).
Dr. Helmut Schweigart
Responsable du service Reliability & Surfaces, ZESTRON Europe
Dr. Helmut Schweigart a obtenu son doctorat dans le domaine de la fiabilité des modules électroniques et travaille chez ZESTRON Europe depuis les débuts de l'entreprise. Actuellement, il est à la tête de l'équipe Reliability & Surfaces. Il est également membre du conseil d'administration de la GfKORR (« Gesellschaft für Korrosionsschutz », société pour la protection contre la corrosion) et actif au sein des associations professionnelles GUS, ECPE, ZVEI, JEP et IPC.
Freddy Gilbert
Analyste technologique, ZESTRON Europe
Freddy Gilbert a étudié les sciences des matériaux à l'École polytechnique de l'Université de Montpellier et à l'Université Technique de Berlin pour obtenir un Master of Engineering. Dans son poste d'analyste technologique au sein de l'équipe Reliability & Surfaces de ZESTRON, il organise et réalise des coachings technologiques sur les thèmes suivants : analyse de défaillances, analyse de surfaces, évaluation des risques.
