Intransparent verkapselte Leistungsmodule zuverlässig prüfen

Die Impedanzspektroskopie (EIS) macht verdeckte Schwachstellen sichtbar und ermöglicht frühzeitige Korrekturmaßnahmen.

elektrische impetanzspektroskopie (EIS)Ausfälle in verkapselter Leistungselektronik zerstörungsfrei lokalisieren

Wie lassen sich Schäden analysieren, wenn Leistungsmodule vollständig vergossen oder durch Moldprozesse unzugänglich sind? Welche Möglichkeiten gibt es, Fehlerursachen zuverlässig aufzudecken, ohne die Baugruppe zerstörend zu präparieren?

Mit der elektrischen Impedanzspektroskopie (EIS) erhalten Sie Antworten auf genau diese Fragen. Das Verfahren macht selbst intransparent verkapselte Module analysierbar, wo Sichtprüfungen und klassische Diagnosemethoden an ihre Grenzen stoßen. So lassen sich Schadensursachen schnell identifizieren, ungeplante Stillstände vermeiden und kostenintensive Austauschmaßnahmen reduzieren.

Schneller zur UrsacheElektrische Impedanzspektroskopie für Leistungsmodule

Die elektrische Impedanzspektroskopie (EIS) ermöglicht eine zerstörungsfreie Bewertung von Leistungselektronik, auch bei komplexen und intransparenten Aufbauten im eingebauten Zustand. Vor allem bei Feldausfällen oder während der Prozessvalidierung lassen sich potenzielle Schwachstellen schnell eingrenzen und Zusammenhänge zuverlässig nachvollziehen.

Wenn Elektronik intransparent vergossen oder gemoldet ist, stoßen klassische Methoden an ihre Grenzen. Genau hier liefert EIS die entscheidenden Antworten.

Die Vorteile auf einen Blick:

  • zerstörungsfrei

  • schnell

  • direkt im Einsatz

Ob sporadischer Ausfall im Feld oder kritischer Validierungsschritt, EIS macht Schwachstellen sichtbar und schafft Klarheit bevor Stillstände und Kosten eskalieren. So gewinnen Sie Sicherheit für Ihre Leistungselektronik.

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Einfluss von Feuchtigkeit und Wasserlagerung auf den Impedanzverlauf von Leistungselektronik | © @ZESTRON

Ihr besonderer benefitSchneller zur Ursache, früher zur Lösung

Wer Leistungselektronik herstellt, weiß: Je länger die Fehlersuche dauert, desto höher sind Kosten, Stillstände und Unsicherheit in der Produktion. Genau hier setzt EIS an und verschafft Ihnen den entscheidenden Zeitvorteil.

  • Der größte Vorteil: Zeitgewinn
    Was sonst Tage intensiver Fehlersuche erfordert, lässt sich mit EIS oft in wenigen Stunden analysieren. Das beschleunigt die Ursachenklärung, insbesondere Art und Lage des Ausfalls, und ermöglicht es, schnell und zielgerichtet zu reagieren. Typische Fehlerbilder wie Delaminationen, Risse, Korrosion oder dendritisches Wachstum können so zuverlässig eingegrenzt werden.
  • EIS für die Früherkennung
    Die Methode eignet sich auch für die vorbeugende Bewertung, etwa durch den Vergleich von Ergebnissen vor und nach Belastungstests. Auf diese Weise lassen sich Risiken frühzeitig erkennen, lange bevor es zu Ausfällen kommt.
  • Mit Blick auf die Praxis
    Die Ergebnisse werden nicht isoliert betrachtet, sondern fließen direkt in die Optimierung Ihrer Herstellerprozesse ein. Sie dienen als Grundlage für gezielte und praxisnahe Verbesserungen. In enger Zusammenarbeit mit Ihrem Team entsteht daraus eine Lösung, die nachhaltig und sofort umsetzbar ist.

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Laboraufnahme: Mikroskopische Schadensanalyse von Korrosion und Kriechströmen an elektronischen Baugruppen | © @ZESTRON

Abhilfe-modulSchadensanalyse bei Korrosion und Kriechströmen

Stehen Ihre Leistungsmodule durch Korrosion, Kriechströme oder Dendriten unter Risiko?
Unser spezialisiertes Abhilfe-Modul hilft Ihnen, Schwachstellen frühzeitig zu erkennen und nachhaltige Strategien für stabile Leistung und zuverlässige Leistungselektronik zu entwickeln.

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Zuverlässigkeit von Leistungsmodulen ist zentral in der Automobil- und Energietechnik. Epoxy Mold Compounds schützen vor Temperaturwechseln, Feuchte und Schadgasen. Elektrische Impedanzspektroskopie mit HAST bewertet die Qualität und deckt Schwachstellen früh in Stunden bis Tagen auf.

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