Gezielte Oberflächen- und Ausfallursachenanalyse

ZESTRON unterstützt Sie mit der Analyse und Interpretation Ihrer Oberflächen und Module in allen Lebenslagen.

Oberflächenanalyse

Ihr Vorteil von Oberflächen­analytik in der Entwicklung, Fertigung und im Feld

REM/EDX, FTIR-Spektroskopie und Ionenchromatographie (IC) sind nur einige der hochwertigen Analyseverfahren, die wir in der Leistungselektronik nutzen. Der wahre Mehrwert für Sie liegt dabei nicht in der Durchführung einer Messung, sondern in der zielgerichteten Planung der Analyse und der fundierten, fallspezifischen Interpretation der Ergebnisse.

Unsere Experten bringen umfassende Erfahrung in der Analyse und Interpretation im Umfeld der Leistungselektronik mit. Sie untersuchen Oberflächen gezielt mit Blick auf bestimmte Aufbau- und Verbindungsprozesse in der Entwicklung und Fertigung sowie bei Feldausfällen, um Ursachen präzise zu identifizieren.

 

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oberflächenanalytikDas Verständnis der Oberflächen ist der erste Schritt zum Ziel

Die Qualität Ihrer Leistungsmodul-Prozesse beginnt an der Oberfläche. Jede Materialschnittstelle bringt ihre eigenen Herausforderungen mit sich. Verstehen wir die Oberflächen, können wir die Funktionsmechanismen dahinter entschlüsseln. So können wir Methoden entwickeln, die Oberflächen anzupassen und Ihre Prozesse gezielt verbessern.

Mit hochpräzisen Verfahren wie REM/EDX, FTIR,  IC  und weiteren Methoden decken wir die Geheimnisse Ihrer Oberflächen auf und bewerten sie. Ob es um die Oberflächenbeschaffenheit geht, um Metallisierungen, Finishes oder Gründe für Haftungsprobleme  – unsere Analytik liefert Ihnen die Antworten, um Ihre Verbindungsprozesse auf das nächste Level zu heben.


 

Sie interessieren sich für die Analyse der Oberflächeneigenschaften Ihrer Teile?

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Es ist eine Leiterplatten-Oberfläche ENIG (Electroless Nickel Immersion Gold) zu sehen mit Korrosion.  | © Zestron
REM/EDX

weil doch sein kann, was nicht sein darfWenn der Ausfall eintritt, finden wir für Sie die Ursache und eine Lösung

Fällt Ihr Leistungsmodul in der Validierung oder später im Feld aus, unterstützt Sie unser Expertenteam dabei, die Ursachen aufzudecken.

Mit elektrischen Verfahren wie der Impedanzspektroskopie und modernsten optischen und elektronenoptischen Analysen wie REM/EDX spüren wir Defekte auf den Oberflächen auf und identifizieren die Gründe für den Ausfall auf mikroskopischer Ebene.

Ist die Ursache ermittelt, entwickeln unsere Experten Handlungsempfehlungen für Sie und begleiten Sie auf Wunsch bei der weiteren Umsetzung.


 

Haben Sie Ausfälle bei der Validierung Ihrer Leistungsmodule?

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