Oberflächenanalyse – Grenzflächen verstehen , Ausbeuten maximieren

Hochwertige Analytik, Messdaten und Detailkenntnis von AVT-Oberflächenanforderungen helfen beim Verständnisaufbau und der Entwicklung von robusten Fertigungsprozessen.

Oberflächenanalyse Ihr Vorteil von Oberflächenanalytik in der Entwicklung und Fertigung

REM/EDX, FTIR-Spektroskopie und Ionenchromatographie (IC) sind nur einige der hochwertigen Analyseverfahren, die wir in der Leistungselektronik nutzen. Der wahre Mehrwert für Sie liegt dabei nicht alleine in den Messdaten, sondern in der fallspezifischen Interpretation der Ergebnisse im Kontext der Anforderungen Ihrer AVT-Prozesse.

Unsere Experten bringen viele Jahre Erfahrung in der Analyse und Daten-Interpretation im Umfeld der Leistungselektronik mit. Sie untersuchen Oberflächen gezielt mit Blick auf bestimmte Aufbau- und Verbindungsprozesse in der Entwicklung und Prozessqualifikation.

Sie interessieren sich für die Analyse der Oberflächeneigenschaften Ihrer Teile?

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weil doch sein kann, was nicht sein darfWenn der Ausfall eintritt, finden wir die Ursache und eine Lösung

Fällt Ihr Leistungsmodul in der Validierung oder später im Feld aus, unterstützt Sie unser Expertenteam dabei, die Ursachen aufzudecken.

Mit elektrischen Verfahren wie der Impedanzspektroskopie und modernsten optischen und elektronenoptischen Analysen wie REM/EDX spüren wir Defekte auf den Oberflächen auf und identifizieren die Gründe für den Ausfall auf mikroskopischer Ebene.

Ist die Ursache ermittelt, entwickeln unsere Experten Handlungsempfehlungen und begleiten Sie auf Wunsch bei der weiteren Umsetzung.

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Baugruppe mit dendritischen Fehlerbilder der Black Spots. | © @ZESTRON
REM/EDX

leistungselektronikFundierte Analytik für sichere Entscheidungen

Sichern Sie Ihre Prozessstabilität, minimieren Sie Ausfallrisiken und validieren Sie Ihre Annahmen – mit fundierten Analysen durch unsere Experten. Unser Team begleitet Sie bei jedem Schritt.

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