ミクロオーダーまでプロセスを分析します清浄度分析
ゼストロンの分析センターでは、様々な分析試験方法活用し、IPC、MILまたはJ-STD等の国際基準に準拠して、洗浄プロセス全体をテストすることができます。
ご提供可能なプロセスは、視覚的、化学的および物理的な試験方法となります。洗浄後のパワーモジュール、プリント基板、メタルマスク、治具等の洗浄対象物だけでなく、洗浄液自体の品質も様々な技術を用いて分析することができます。
ご提供内容
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J-STD001Eに準拠した表面清浄度を認定する分析方法
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詳細に記述されたテクニカルレポート
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残渣によって誘発される可能性のある不具合の分析
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是正処置または最適化のためのご提案
分析方法
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清浄度を測定できるイオンコンタミネーション試験
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プロセスの検証とリスク評価ができるイオンクロマトグラフィー
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最大倍率2500倍の光学デジタル顕微鏡を用いた高解像度表面分析
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アニオン、カチオン、弱有機酸の測定(定性的および定量的)による定性的熱分析
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接触角測定または表面抵抗測定インクテストによる表面エネルギー
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シグナルインテグリティのための表面抵抗測定
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有機物残渣の詳細な起因分析する FT-IR
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フラックス活性剤の分布を識別するZESTRON® Flux Test
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目視によるレジン系残渣の分布を識別するZESTRON® Resin Test
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プリント基板のコーティングの欠陥を検出するZESTRON® Coating Layer Test
特徴
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内部および外部監査のため、プロセス保証を検証する標準分析法
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透明性のある新しいプロセスを導入
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洗浄液の品質と問題の早期発見を個別にモニタリングするパラメーター
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優れた洗浄液品質により、継続的に安全で安定した洗浄プロセスを実現
IPC-TM 650に準拠し、基板上のイオン残渣(アニオン、カチオン、及び有機酸)を測定
基板上の有機物残渣を測定し、残留物質がフラックスによるものなのか、洗浄液等の残留による影響かなどの詳細な起因分析
80倍の光学顕微鏡または最大倍率2500倍のデジタル顕微鏡を用いた基板の高解像度表面分析
洗浄液分析
一貫して高い洗浄液の品質を確保し、実施後安心して作業を進めるため、ZESTRONは無料で液モニターサービスを提供しています。標準的な分析方法を使用して、事前定義されたパラメーターに応じて液のサンプルを分析します。この洗浄液分析は洗浄液寿命を最大化し、プロセス全体のコストを削減するのに役立ちます。
ご提供内容
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ISO標準分析法を使用して6つのサンプルまでの無料分析
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グラフと管理限界を記載したテクニカルレポート
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お客様のアプリケーション専用の液管理パラメーター
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固形物の測定
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pH値測定(DIN19268による)
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電気伝導度測定(DIN-EN27888による)
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濃度測定
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ガスクロマトグラフィー(GC)分析
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外部機関の協力を得て追加の物理的、化学的試験
お客様のメリット
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内部および外部監査のため、プロセス安心度を検証する標準分析法
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新しいプロセスをわかりやすく導入
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洗浄液の品質と問題の早期発見を監視するパラメーターを独立して管理
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優れた洗浄液品質を通じて達成された継続的に安全で安定した洗浄プロセス
分析センターのVRツアー
洗浄から清浄度分析までワンストップで
洗浄を検討するにあたって、洗浄剤だけでは完結しません。
弊社は洗浄剤メーカーではありますが、ワークに適した洗浄方式を選択するこ と、そして洗浄後の分析も重要と考えています。
そのため、洗浄剤のご提案だけでなく、洗浄方式の選定、清浄度分析もサポー トさせていただきます。