FT-IRで分かること
FT-IRは、測定対象物に赤外光を照射し、透過または反射された赤外光の吸収スペクトルを測定することで、対象物質の化学構造や成分を同定することができる分析手法で、非破壊で検査が可能です。
- 有機物残渣の検出
- フラックス残渣の成分分析
- 目視観察では確認の難しい微量な複合有機物を特定
- 残渣の起因（フラックス・洗浄液・材料など）の推定
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FT-IRの主な用途
・フラックス残渣の成分分析
・洗浄後に残留する有機物の確認
・基板表面の有機残渣物質の特定
・製造工程における有機残渣の原因解析
・コーティング・接着工程前の表面状態評価 -
測定対象物
プリント基板（PCB）、DCB、液体サンプルなど -
使用装置
LUMOS（BRUKER製）
測定方法
ATR法または反射法にて、測定可能な顕微鏡タイプの装置。微細部分の有機物残渣の高精度判定が可能な分析装置です。用途により測定手法を切り替えて分析します。分析手法としては、ATR 法と反射法の2種があります。
ATR法
ATR 法は、プリズムを直接測定部に押し当てて赤外線を増幅させるため、有機物残渣が微量に存在する場合であっても高精度な判定が可能となります。
反射法
反射法は赤外レーザーを使用した反射光によって測定を行うため、非破壊で検査できる利点があり、クリスタルが接触できないような細部の分析も可能となります。
測定結果例
▼ATR法
残渣はフラックス成分と一致していることが確認できる
▼反射法
フラックスが目視では確認できない部分
⇒微量だが残渣があると判断できる
神奈川県にあるゼストロンの分析センターには、マイクロスコープ、FT-IR、イオンクロマトグラフィー、SEM-EDXなどの観察/分析装置があり、トレーニングを受けた専任のスタッフが、洗浄後の清浄度評価や、洗浄後に不具合が起きている場合の原因分析などをお手伝いいたします。
また、必要に応じて分析結果をおまとめしたレポートを提出し、分析結果を踏まえた洗浄プロセスの最適化・構築もご提案いたします。分析に関して、何かお困り事がございましたら、お気軽にお問い合わせください。
分析内容がまだ固まっていなくても問題ありません。
現状のお困りごとや気になっている点をもとに、適した分析方法や進め方をご提案します。
「何が付着しているか分からない」「原因をどこから調べればよいか分からない」といった段階でも、お気軽にご相談ください。