イオンクロマトグラフィー
IPC-TM 650に準拠し、基板上のイオン残渣(アニオン、カチオン、及び有機酸)を測定します
イオンクロマトグラフィー
高解像度分析方法では、IPC-TM-650に従いプリント基板上のイオン残渣(アニオン、カチオン、および有機酸)を測定します。また、モジュール上の臭化物・塩化物などの懸念物質を正確に測定することができます。ROSE Testなどの簡易測定方法と比較した場合、イオンクロマトグラフィーは単一イオンの定量分析が可能です。
適応範囲
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リーク電流やケミカルマイグレーション、または銅の腐食など、潜在的リスクの予測評価
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ガイドラインに従ったはんだ付け後の清浄度評価
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洗浄後または次工程となるコーティングやボンディング前の表面定性分析
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定期的なサンプル調査による継続的な品質管理
電子基板の表面に残留するイオンは、腐食やフィールド故障を引き起こす要因となる可能性があるため、製造品質を左右する重要な管理項目です。基板全体に存在するイオン残渣の総量を迅速に把握できる ものがROSEテストですが、総量だけでは不十分で、「どのイオンが、どれだけ存在するのか」 を把握したい場面も多くあります。
そこで活用されるのが イオンクロマトグラフィー（Ion Chromatography） です。
🔹 イオンクロマトグラフィーのメリット：
✔ イオン種ごとに定量分析できる
✔ 不良の根本原因解析に最適
✔ IPC-TM-650準拠の信頼性ある手法
✔ 不良率低減と歩留まり向上に直結
ROSEテストとの違い：イオン残渣分析 見えない残渣から不良へ？