電子基板の分析サービス(動画)|残渣評価・不具合原因調査・清浄度評価

電子基板の不具合原因は、外観検査だけでは特定できない場合があります。フラックス残渣やイオン汚染といった目に見えない要因が、量産後の不具合や信頼性低下につながるケースも少なくありません。本動画では、こうした問題を解決するための分析の必要性と、残渣評価・不具合原因調査・清浄度評価といった分析サービスについて約1分30秒の動画でご紹介します。

 

▼分析サービスの紹介動画はこちら

動画概要

00:00 基板の不具合ありませんか?
00:09 なぜ分析が必要なのか
   BGA下の残渣・マイグレーション・デンドライト成長
00:18  フラックス残渣は複合的で外観のみでは判断しにくい
00:25 ゼストロンの分析サービス
00:33 残渣に応じた分析ができる分析センター
00:45 目的別に選べる分析サービス
00:46 残渣分析ーフラックスやシンターなど付着物の有無を調べる
00:52 不具合原因調査ー異物や原因を装置とノウハウで調査
00:58 清浄度評価ー定期的な分析による工程管理
01:10  分析結果+改善提案まで対応
01:25 お問い合わせ

 

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