分析活用事例|ゼストロンの分析サービス

 

|清浄度評価

洗浄条件変更の検討時や、ユーザー様からの規格指定での依頼時など、フラックス洗浄メーカーとしての知見をもつゼストロンでは測定条件や分析手法を相談しながら分析の実施が可能です。

 

1. ポストフラックス変更検討に伴う清浄度確認 

ポストフラックス変更に伴う基板洗浄後のイオン残渣確認事例。ROSE試験(オメガメーター等による全イオン清浄度測定)を用いて残渣量を評価し、基板のイオンマイグレーションや腐食トラブルを防止するための分析事例画像。
項目 内容
ご相談内容(背景)
  • ポストフラックス変更に伴う洗浄後の残渣確認
  • IPC規格準拠のイオンコンタミ分析の依頼
実施した分析 ROSE Test(IPC-TM-650 2.3.25)
分析結果 IPC規格に準拠したROSE Testを実施し、洗浄後の基板におけるイオンコンタミネーション値低下を確認。
分析結果の活用
  • ポストフラックス変更後の洗浄工程が要求される清浄度を満たしているか確認
  • IPC規格に基づく評価結果を、洗浄条件の検討・見直しの判断材料として活用

 

項目 内容
ご相談内容(背景)
  • 保有している分析装置が老朽化していることから、精度に懸念がある
  • 洗浄装置導入後の洗浄条件ごとの清浄度を年1回程度継続確認したい
実施した分析 ROSE Test(IPC-TM-650 2.3.25)
分析結果 IPC規格に準拠したROSE Testを実施し、洗浄後の基板におけるイオンコンタミネーション値低下を確認。
分析結果の活用
  • 洗浄条件ごとの清浄度を比較し、洗浄条件選定の判断材料として活用
  • 定期的な清浄度確認により、洗浄工程の状態を継続的に把握
  • 自社装置と外部分析による測定結果を比較し、今後の清浄度評価方法を検討

 

項目 内容
ご相談内容(背景)
  • 新規製品に使用するはんだの選定にあたり、納品先よりC3/IC分析の実施を要求された
  • 製品は海外および日本のそれぞれの拠点で生産するため、分析条件を統一した整合性のある評価データの取得が希望
  • 得られたデータに基づいて、検出されたイオン種の由来や要因を含めた見解が必要
実施した分析 C3、IC
分析結果 未実装の生基板を基準に各分析を実施した結果、各はんだフラックスに特徴的なイオン種が検出され、C3テストではPassである一方、IC分析ではFailとなる条件があることを確認。
分析結果の活用
  • C3とICの分析結果を比較し、はんだ選定時の評価材料として活用
  • 日本・海外拠点で分析条件を統一し、拠点間で比較可能な評価データを取得
  • 洗浄レスを選択した場合の長期的な影響を検討する際の判断材料として活用

 

ゼストロンの分析サービスの特徴

  • 課題に応じた分析方法をご提案


    分析手法が決まっていない段階からご相談いただけます。「基板上に何が残っているのか調べたい」「不具合の原因を特定したい」など、課題によって適した分析方法は異なります。

    ゼストロンでは、ご相談内容や対象物の状態を確認し、目的に応じた分析方法をご提案します。

  • 複数の分析手法で複合的な残渣を分析
     

    フラックス残渣や基板上の付着物は、1種類の成分だけで構成されているとは限りません。イオン成分、有機物、無機物、金属成分など、複数の要因が関係する場合があります。

    イオンクロマトグラフィー、FT-IR、SEM-EDSなどを活用し、対象物や目的に応じて多角的に分析します。

  • 分析結果を次の対応につなげるサポート


    分析結果・測定データのみのご報告から、結果の考察や次の対応に向けたご提案まで、ご要望に応じて対応します。

    フラックス洗浄メーカーとして培ってきた知見を活かし、データの提出のみではなく、ご要望に応じて結果から考えられる要因の整理や追加分析、洗浄工程の検討などもサポートします。

|よくあるご質問

Q. どの分析方法を依頼すればよいですか?

A. ご希望の分析に適した分析方法をご提案します。
「何が付着しているのか知りたい」「不具合の原因を調べたい」「洗浄後の状態を確認したい」など、ご相談内容や分析の目的をお伺いしたうえで、適した分析方法をご提案します。分析装置や手法が決まっていない段階からご相談いただけます。


Q. 分析は、どこに依頼しても結果は同じですか?

A. 必ずしも同じとは限りません。使用する分析装置や測定方法、分析条件によって、得られる数値や検出できる成分が異なる場合があります。

例えば、実際には複数の成分が含まれている残渣であっても、選択した測定方法によっては、その一部しか検出できない場合があります。また、装置や測定条件の違いによって、同じ対象を測定しても数値に差が生じるケースがあります。

そのため、分析では「何を調べたいのか」という目的に応じて、適切な分析方法や条件を選択することが重要です。

ゼストロンはフラックス洗浄メーカーとして培ってきた洗浄に関する知見と分析ノウハウを組み合わせ、「何が残っているのか」を明らかにするだけでなく、「なぜ残っているのか」「どう改善するのか」まで考察できる分析サービスを提供しています。

また、イオンクロマトグラフィーやFT-IR、SEM-EDSなど複数の分析手法にも対応しています。残渣の種類や状態、分析の目的に応じて適切な分析方法を組み合わせることで、残渣の全体像を把握することを目指します。


Q. 他社製の洗浄剤を使用していても、分析を依頼できますか?

A. 他社製の洗浄剤を使用している場合でも、分析をご依頼いただけます。

ゼストロンでは、自社製品の使用有無にかかわらず、電子基板・電子部品に付着した残渣や異物の分析、清浄度評価、不具合原因の調査などに対応しています。
「現在使用している洗浄剤で洗浄後の基板がどのような状態になっているか確認したい」といったご相談も可能です。

ゼストロンの分析サービスの流れを示す6ステップのフロー図。問い合わせ、ヒアリング、分析方法・条件の検討、見積もり、測定・分析、報告書提出というステップに加え、ご要望に応じて分析結果の考察や改善提案まで専門スタッフがサポートすることを示しています。

分析内容がまだ固まっていなくても問題ありません。
現状のお困りごとや気になっている点をもとに、適した分析方法や進め方をご提案します。
「何が付着しているか分からない」「原因をどこから調べればよいか分からない」といった段階でも、お気軽にご相談ください。