はんだ選定における清浄度評価｜C3・イオンクロマトグラフィー分析（海外・日本統一条件）
新規製品に使用するはんだの選定に伴い、納品先から局所的イオン抽出（C3）・イオンクロマトグラフィー（IC）分析を求められ、海外拠点と連携して日本・海外で条件を統一した評価データを取得。検出成分の要因分析まで行った分析事例です。
ご相談内容（背景）とご要望
- 新規製品に使用するはんだの選定にあたり、納品先よりC3／IC分析の実施を要求された
- 製品は海外および日本のそれぞれの拠点で生産するため、分析条件を統一した整合性のある評価データの取得が希望
- 得られたデータに基づいて、検出されたイオン種の由来や要因を含めた見解が必要
実施した分析
分析の種類：C3、イオンクロマトグラフィー
使用した分析装置：
Foresite C3 Tester
Thermo Fisher Dionex Integrion HPIC
測定対象：プリント基板（PCB）
※本分析は、ゼストロンの海外拠点で実施。（日本拠点では、IC分析を導入済み）
適用した分析器による利点
- ROSE Test等に代表される基板全体の抽出評価による分析とは異なり、評価領域を限定した局所的な分析が可能
- 2つの分析方法を併用することで、イオン汚染や腐食性を有する残渣の程度に加え、影響を及ぼすイオン種の同定が可能
➢ 基板上の懸念度が高い領域を特定することが可能
分析結果
- 未実装の生基板を基準として各分析を実施したところ、各はんだフラックスに特徴的なイオン種が検出されることを確認。
- 特にROL0はんだフラックスについては、グレードによってWOAとNH4+の値が設定閾値を大幅に超えている製品を確認。
※各イオン種の検出結果を一部抜粋
｜分析結果の活用
- C3とICの分析結果を比較し、はんだ選定時の評価材料として活用
- 日本・海外拠点で分析条件を統一し、拠点間で比較可能な評価データを取得
- 洗浄レスを選択した場合の長期的な影響を検討する際の判断材料として活用
分析内容がまだ固まっていなくても問題ありません。
現状のお困りごとや気になっている点をもとに、適した分析方法や進め方をご提案します。
「何が付着しているか分からない」「原因をどこから調べればよいか分からない」といった段階でも、お気軽にご相談ください。