量産後に突然起こるイオンマイグレーション｜原因の特定方法（動画）
本動画では、量産後に突然発生する基板不良の原因として見落とされやすいイオンマイグレーションについて解説しています。問題になっている理由やリスク箇所、そしてROSEテスト・イオンクロマトグラフィー・SEM-EDSによる確認・分析方法までをご覧いただけます。
▼【基板不良】イオンマイグレーション｜リスク箇所と特定方法を解説
イオンマイグレーションは、水分・電圧・電解質の3要素が揃った環境下で発生する電気化学現象です。外観検査では検出が難しく、出荷時に正常動作していても市場で突然の短絡不良につながるリスクがあります。
BGA／CSP下やコーティング内部など、目視では確認しにくい箇所で発生しやすいことが特徴です。
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更新日：2025年10月2日 公開日：2022年11月29日
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