Einfluss des pH Wertes auf den Mechanismus der Elektrochemischen Migration

Dr. Helmut Schweigart, Dr. Markus Meier

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Brief Insight
Erfahren Sie, wie Elektrochemische Migration (ECM) die Ausfallsicherheit von Baugruppen beeinträchtigt.
Studie zu pH-Wert- und Gasentwicklung, CAF und Anodischem Migrationsphänomen.

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Artikelnummer: DE-2002-03

Whitepaper

Einfluss des pH Wertes auf den Mechanismus der Elektrochemischen Migration

Abstract

Elektrochemische Migration (ECM) als häufigste Ausfallursache elektronischer Baugruppen unter Feuchtigkeits- bzw. Betauungsbelastung

Da der Mechanismus der ECM in verschiedenen Ausprägungen, insbesondere bei CAF und Anodischem Migrationsphänomen (AMP) auftaucht, ist eine weitere Vertiefung des Verständnisses hilfreich, um Risiken vor allem bei leistungselektronischen Baugruppen besser einschätzen zu können. Über Videoanalysen im Mikroskop wurde der Verlauf der pH-Wertentwicklung über die einzelnen Stadien der Elektrochemischen Migration beobachtet und dieser mit den elektrochemischen Eigenschaften des Silbers korreliert.

Im Fachbeitrag werden vor allem die pH-Wert- und Gasentwicklung auf Basis von Echtzeitvideos der Elektrochemischen Migration und die Erläuterung der 3 oben genannten Stufen anhand des Chemismus des Silbers bzw. des sogenannten Pourbaix-Diagrammes für Silber diskutiert.

Inhaltliche Schwerpunkte

Voraussetzungen für die Entstehung Elektrochemischer Migration
Mechanismen der Elektrochemischen Migration
Dendritenwachstum

Kategorie: Elektrochemische Migration & Korrosion / Leistungselektronik | Anfrage: auf die Merkliste

Dr. Helmut Schweigart

Leiter Reliability & Surfaces

Dr. Helmut Schweigart promovierte im Bereich Zuverlässigkeit von elektronischen Baugruppen und ist seit den Anfängen des Unternehmens bei ZESTRON Europe. Mittlerweile leitet er das Reliability & Surfaces Team. Zudem ist er Vorstandsmitglied der GfKORR (Gesellschaft für Korrosionsschutz) sowie aktives Mitglied bei der GUS (Gesellschaft für Umweltsimulation) und IPC.

Dr. Markus Meier

Gruppenleiter Reliability & Surfaces

Dr. Markus Meier studierte und promivierte Chemie an der Technischen Universität München. Er ist Experte auf den Gebieten Grenzflächenchemie und Oberflächenanalytik. Bei ZESTRON Europe arbeitet er als Senior Technology Analyst im Bereich Reliability & Surfaces und ist dort für die Koordination von Forschungsprojekten sowie für die Organisation und Durchführung von Technologie Coachings zu den Themen Schadensanalytik und Risikobewertung verantwortlich.