リーク電流｜発生原因・測定方法・対策のポイントを解説（動画）
基板上のリーク電流は、フラックス残渣やイオン汚染などにより発生し、信頼性低下の原因となります。本動画では、リーク電流の発生要因、SIR試験やピコアンメータ・SMUによる測定・評価方法、対策について３分30秒で解説します。
▼リーク電流｜発生の原因・測定方法・対策を解説【基板不良】
誤動作・消費電力の増大など、その基板不良の原因は「リーク電流」かもしれません。
リーク電流は、本来意図しない経路を流れる微小な電流であり、その発生原因は多岐にわたります。半導体デバイス内部の物理現象に起因するものから、電子基板の設計・製造・実装プロセスに起因するものまで、さまざまな要因によって発生します。
リーク電流が発生してしまった際は、SEM-EDS・FT-IR・イオンクロマトグラフィー等の分析方法で発生原因の特定をすることが、再発防止の第一歩となります。
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更新日：2026年3月17日 公開日：2026年3月17日
更新日：2025年12月24日 公開日：2025年12月24日
更新日：2025年12月5日 公開日：2024年8月27日
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