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Korrosion in der Leistungselektronik

Dr. Markus Meier


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Brief Insight
Korrosion an elektronischen und leistungselektronischen Baugruppen und Modulen zählt zu den wesentlichen Einflussfaktoren auf die Zuverlässigkeit. Besonders in der Leistungselektronik tritt unter Hochspannungs und Feuchtigkeitsbedingungen häufig das anodische Migrationsphänomen (AMP) auf.

Im Whitepaper wird anhand konkreter Fehlerfälle eingeordnet, wodurch sich AMP von der bekannten elektrochemischen Migration unterscheidet und warum sich die Wachstumsrichtung dendritischer Strukturen verändert.

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Artikelnummer: DE-2604-03


Whitepaper

Korrosion in der Leistungselektronik

Abstract

Korrosion an elektronischen und leistungselektronischen Baugruppen und Modulen ist einer der Hauptfaktoren, die die Zuverlässigkeit der jeweiligen Komponente beeinträchtigen. Die langjährige Erfahrung von ZESTRON im Bereich der Schadensanalytik und Risikobewertung zeigen eindeutig, dass insbesondere in der Leistungselektronik das Phänomen der anodischen Migration (AMP = anodic migration phenomenon) der Korrosionsmechanismus ist, der unter Hochspannungsbedingungen in Verbindung mit hochfeuchten Umgebungsbedingungen am häufigsten auftritt.

Diese Studie zeigt, dass das Anodische Migrationsphänomen vom „Basismechanismus“ der elektrochemischen Migration abweicht, der v.a. von Niederspannungsanwendungen bekannt ist. In leistungselektronischen Komponenten zeigt das AMP eine anodisch-kathodische Migrationserscheinung, wohingegen die „klassische“ ECM ein kathodisch-anodisches Dendriten-Wachstum zur Folge hat. AMP findet bevorzugt innerhalb von Polymermaterialien statt, die beispielsweise zu Isolationszwecken verwendet werden. 



Inhaltliche Schwerpunkte

  • Übersicht über Ausfallmechanismen

  • Elektrochemische Migration (ECM) - der "Basismechanismus"

  • Das Anodische Migrationsphänomen (AMP)

  • AMP Fallstudie

 


Kategorie: Leistungselektronik | Anfrage: Auf die Merkliste

Oberflächenreinheit Zestron Meier | © @The Sour Cherry Fotografie - Michaela Curtis

Dr. Markus Meier

Gruppenleiter Reliability & Surfaces

Dr. Markus Meier studierte und promivierte Chemie an der Technischen Universität München. Er ist Experte auf den Gebieten Grenzflächenchemie und Oberflächenanalytik. Bei ZESTRON Europe arbeitet er als Senior Technology Analyst im Bereich Reliability & Surfaces und ist dort für die Koordination von Forschungsprojekten sowie für die Organisation und Durchführung von Technologie Coachings zu den Themen Schadensanalytik und Risikobewertung verantwortlich.

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